1. Application of stress-wave theory on piles : test results : proceedings of the fourth International
المؤلف:
المکتبة: (طهران)
موضوع: Piling )Civil engineering( - Congresses , Stress waves - Congresses
رده :
TA
780
.
I57
1992
2. Designing, testing, and diagnostics--join them : International Test Conference 1993 proceedings
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Automatic checkout equipment-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I474
1993
3. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain
المؤلف: sponsored by the IEEE Electron Devices Society
المکتبة: (طهران)
موضوع: Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses
رده :
TK
7874
.
I3233
1993
4. Proceedings of the...International Conference on Microelectronic Test Structures
المؤلف: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Testing - Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
I3233
1994
5. Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: Congresses ، Integrated circuits-- Testing
رده :
TK
7874
.
I3233a
6. 25th anniversary compendium of papers from International Test Conference
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Electronic digital computers-- Circuits-- Testing-- Congresses
رده :
TK
7874
.
I593
1994